半導體器件故障預測與健康管理的關(guān)鍵技術(shù)包括以下幾個(gè)方面,希望能夠幫助到大家哦! (1)故障建模技術(shù) 故障建模技術(shù)主要解決故障產(chǎn)生機理和演化規律等問(wèn)題,直接關(guān)系著(zhù)故障預測的準確度。主要手段是通過(guò)實(shí)驗驗證和數據積累,研究器件的故障機理和失效模型。研究基礎零部件的故障發(fā)展規律,建立元器件級故障預測模型,可為系統級和復雜裝備的故障預測奠定理論基礎、提供經(jīng)驗借鑒。 (2)數據分析處理技術(shù) 監測對象的狀態(tài)參數常常具有多源、高維和非線(xiàn)性等特點(diǎn)。如何通過(guò)有效的數據分析處理方式,從現有數據中挖掘有效信息進(jìn)行故障預測,是數據分析的難點(diǎn)。數據分析處理技術(shù)主要解決噪聲抑制、濾波、壓縮、數據格式統一、數據融合等問(wèn)題,實(shí)現從“數據”到“信息”的過(guò)濾,為故障診斷、健康評估和維修決策提供信息支援。 (3)故障預測與健康評估技術(shù) 針對半導體器件衰退過(guò)程,通過(guò)基于模型、數據或閾值判斷方法進(jìn)行故障預測與健康評估,是技術(shù)的主要內容之一。目前,電子系統的故障預測、故障診斷理論尚不成熟,半導體器件處于早期故障狀態(tài)時(shí),器件往往還可正常工作,有效提取特征參數并設計性能優(yōu)越的識別分類(lèi)器,是急需解決的問(wèn)題。健康評估依托監測數據和故障模型,研究監測數據變化趨勢,經(jīng)綜合分析,挖掘提煉狀態(tài)監測數據和過(guò)往維修檢測數據中反映研究對象健康狀態(tài)的信息,評估研究對象實(shí)際狀態(tài)。 (4)剩余使用壽命預測技術(shù) 剩余使用壽命預測是具有挑戰性的技術(shù)。判斷器件的運行狀態(tài)和預測器件的剩余使用壽命,能夠為后續的性能檢查和維修決策提供合理可靠的參考信息,預測性維護還能避免因器件失效導致的整機失效、停機檢修。 |
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